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          • GT-BIT-45H格特電子負載高溫老化房
            GT-BIT-45H格特電子負載高溫老化房

            格特電子負載高溫老化房一種專門設計的測試設備,用于模擬高溫、惡劣環(huán)境條件,并通過加載一定的負載或工作條件,使產品在模擬環(huán)境中進行長時間的老化測試。在高溫環(huán)境下對電子產品進行負載測試。

            更新日期:2025-01-03型號:GT-BIT-45H
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